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日本SANKO三高SWT系列膜厚儀兩用型探針FN-325
產品型號：FN-325
產品品牌：日本三高SANKO
產品簡介：
日本SANKO三高SWT系列膜厚儀兩用型探針FN-325
日本SANKO三高SWT系列膜厚儀探針FE-2.5
由于探頭兼容性，可以與主體自由組合連接。
根據測量對象連接鐵基（電磁型）或有色金屬基（渦流型）。
可以根據應用和測量范圍選擇探針，例如適用于小塊的測量的高穩定性探針等。
日本SANKO三高SWT系列膜厚儀兩用型探針FN-325
日本SANKO三高SWT系列膜厚儀兩用型探針FN-325
日本SANKO三高SWT系列膜厚儀探針FE-2.5
SWT系列日本SANKO三高探針產品介紹：
由于探頭兼容性，可以與主體自由組合連接。
根據測量對象連接鐵基（電磁型）或有色金屬基（渦流型）。
可以根據應用和測量范圍選擇探針，例如適用于小塊的測量的高穩定性探針等。
探頭（另售）電磁感應式
| 模型Fe - 2.5 * / Fe - 2.5 L.鐵 - 2.5 LwA鐵 - 0.6筆FE-10FE-20測量方法電磁感應式測量范圍0至2.50毫米0至600微米0至10毫米0至20毫米顯示分辨率1μm：0至999μm通過切換0.1μm：0至400μm0.5μm：400至500μm0.01mm ：1.00至2.50 mm1μm：0至600μm通過切換0.1μm：0至400μm，0.5μm：401至500μm1μm：0至999μm0.01mm ：1至10 mm1μm：0至999μm0.01mm ：1至5 mm 0.1 mm：5至20 mm測量精度（平滑面為）0至100μm：±1μm 或±2％的指示值101μm至2.50 mm：±2％以內0至100μm：±1μm 或在指示值101μm至600μm的±2％范圍內：在指示值的±2％范圍內0至3 mm：±（5μm+指示值的3％）3.01 mm或更大：±3％以內探測器1點恒壓接觸型，V切割 2.5：φ15x 47 mm 2.5 L：18 x 22 x 58 mm1點恒壓接觸式測量部分：約24×27×56 mm總長度約550至1,540 mm（伸縮式）1點恒壓接觸式，V切口φ5.6×92.2 mm1點恒壓接觸式，V切口φ20.4×47.1 mm1點恒壓接觸型，V切口φ35x 55 mm選項* 2V型探頭適配器/ - -- -- -- -- -附件用于標準厚板測試的零板（用于鐵）用于標準厚板測試（用于鐵）存儲盒的零板用于標準厚板測試的零板（用于鐵）測量目標在鐵·鋼等磁性金屬基底上涂覆，襯里，噴涂，電鍍（不包括電解鍍鎳）等。在磁性金屬底座上涂漆，如鐵·鋼，襯里等。無法到達的地方，用于測量偏遠地區的涂層厚度涂在磁性金屬基底上，如鐵·鋼，襯里等狹窄的地方，小部分用于測量涂層厚度對于相對較厚的測量用于重量測量 |
| ※探頭耐熱（約200℃）。請詳細詢問。 * 2選項：V型探頭適配器（3種類型：φ5或更小，φ5到10，φ10到20） |
■探頭（另售）渦流配方 |
| 模型NFe - 2.0 * / NFe - 2.0 L.NFE-0.6NFE-5NFE-8測量方法渦流公式測量范圍0至2.00毫米0至0.6毫米0至5毫米0至8毫米顯示分辨率1μm：0至999μm通過切換0.1μm：0至400μm0.5μm：400至500μm0.01mm ：1.00至2.00 mm1μm：0至600μm通過切換0.1μm：0至400μm0.5μm：400至500μm1μm：0至999μm0.01mm ：1至5 mm1μm：0至999μm0.01mm ：1至8 mm測量精度（垂直于光滑表面測量）0至100μm：±1μm 或指示值的±2％101μm至2.00 mm：±2％以內0至100μm：±1μm 或±2％的指示值101μm至600μm：±2％以內0至3 mm：±（5μm+指示值的3％）3.01 mm或更大：在指示值的±3％范圍內探測器1點恒壓接觸型，V切割 2.0：φ15x 47 mm 2.0 L：18 x 22 x 57 mm1點恒壓接觸式，V切割φ13×45.5 mm1點恒壓接觸式，V切口φ20.4×47.7 mm1點恒壓接觸型，V切口φ35x 59 mm選項* 2V型探頭適配器/ - -- -- -- -附件用于標準厚板測試的零板（用于有色金屬）測量目標絕緣涂層在非磁性金屬基底上，如鋁，銅等。用于相對通用的測量對象適用于薄圓棒，細管，小件等的高穩定性對于相對較厚的測量 |
| ※探頭耐熱（約200℃）。請詳細詢問。 * 2選項：V型探頭適配器（3種類型：φ5或更小，φ5到10，φ10到20） |
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