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半導電性粉體電阻率測試系統(tǒng)代替三菱化學MCP-PD51
半導電性粉體電阻率測試系統(tǒng)代替三菱化學MCP-PD51
品名稱: | 粉體阻抗測定系統(tǒng) MCP-PD51 |
特色: | ﹢用于研究開發(fā)、質量管理線,執(zhí)行粉體之物性管理 ﹢與阻抗率計Loresta-GP,Hiresta-UP連接,以測定廣范圍之粉體之低阻抗、高阻抗 ﹢樣品的交換、清掃簡單、可采一觸式著離探頭 ﹢各種粉體的形狀,粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積 ﹢測定及數(shù)據(jù)、備有達執(zhí)行圖形化之軟件以供選購 |
測定對象: | 金屬粉、碳粉類、陶磁粉…等導電性粉體 |
阻性粉末材料研發(fā)及品質控制
一、 eLiPMS-2000plus 粉末電阻率測試系統(tǒng)安裝的現(xiàn)場條件:
1) 主體部分: 約 W340*D270*H630mm(不含包括展開搬運手柄及 MCP-T700 部分尺寸);
2) 安裝空間: 需大于 W1500*D700mm 的臺面(考慮電腦及操作的空間);
3) 工作臺承載: 預備承載大于 70kg 工作臺;
4) 電源:220V/50Hz/500VA,標準專用地線。需大于 3 個電源插座孔位。
二、 eLiPMS-2000plus 粉體電阻率測試系統(tǒng)組成、功能、性能表: 1、產(chǎn)品綜述及特點:
1) 內(nèi)置的精密四探針探頭模腔組件及精密荷重測力傳感器單元,施加壓力 30KN,約 95MPa; 在壓力范圍內(nèi)可設置任意壓力點進行測試分析。一鍵啟動,自動進行加壓、測試、釋放。
2) 簡易操作軟件界面,可設置不同壓力點及保壓時間(保壓時間到再測試),自動測量壓實下粉 末之電阻、電阻率、電導率、厚度、壓強、顆粒壓實密度特性等參數(shù)。
3) 系統(tǒng)通過與三菱化學 LORESTA-GX(MCP-T700)高精度四探針儀連接,可測試寬范圍之粉體阻 抗特征。 電阻測試范圍:0.001*10-4~9.999*107 Ω; 電阻率=Ω*RCF*t(RCF 為糾正因子,t 為厚度單位 cm)
4) 的探針單元,高精度四探針測試原理,消除樣品與探頭及引線所引起的誤差。 也可以裁剪φ20mm 的正負電極片樣品來測試電池極片在不同壓力下的電阻變化; 或者單獨使用 MCP-T700 及其標配探頭或選配探頭來測試片材,所謂多用途。
2、應用范圍: 阻性粉末材料研發(fā)及品質控制。
3、測試領域: 碳 粉--- 充電電池的電極材料、電子材料(電容器,電阻等)、活性炭、焦、石墨、碳黑色、
碳纖維納米碳等。 金屬粉末--- 電池的電極材料、薄膜材料(銅粉末、ITO 粉末等等)、導電膏、
導電油漆和涂料、綠 色接觸材料等。 其它粉末--- 墨粉和相關的粉體/磁性材料如鐵素體、汽車配件等材料。